關(guān)于多項(xiàng)權(quán)利要求時(shí)引用基礎(chǔ)的探討

2024-07-26

  文/北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 柳虹

 

  摘要:在實(shí)際撰寫過程中,如存在引用的權(quán)利要求不包括引用對象的情況,可以具體分析該引用對象的含義在不對其進(jìn)行限定時(shí)是否清楚,是否影響該多項(xiàng)從屬權(quán)利要求或同類獨(dú)立權(quán)利要求所描述的方案的完整性,在引用對象足夠清楚不影響方案完整性的情況下直接刪除“所述”即可,在引用對象不清楚影響方案完整性的情況下需要補(bǔ)充相關(guān)限定內(nèi)容,或者放棄引用不包含引用對象的權(quán)利要求,從而克服權(quán)利要求缺乏引用基礎(chǔ)的問題。

  根據(jù)專利法第二十六條第四款規(guī)定,權(quán)利要求應(yīng)當(dāng)以說明書為依據(jù),清楚、簡要地限定要求專利保護(hù)的范圍。根據(jù)專利法實(shí)施細(xì)則第二十五條的規(guī)定,引用兩項(xiàng)以上權(quán)利要求的多項(xiàng)從屬權(quán)利要求,只能以擇一方式引用在前的權(quán)利要求,并不得作為另一項(xiàng)多項(xiàng)從屬權(quán)利要求的基礎(chǔ)。

  在實(shí)際撰寫過程中,多項(xiàng)從屬權(quán)利要求中的引用對象可能并不存在于其所引用的全部權(quán)利要求中,容易造成該多項(xiàng)從屬權(quán)利要求存在缺乏引用基礎(chǔ)的問題,進(jìn)而存在保護(hù)范圍不清楚的問題。舉例來說,權(quán)利要求1記載了第一位置信息,權(quán)利要求2引用權(quán)利要求1且記載了第二位置信息,權(quán)利要求3引用權(quán)利要求1或權(quán)利要求2時(shí),若記載“所述第一位置信息和所述第二位置信息”,則當(dāng)其引用權(quán)利要求1時(shí),“所述第二位置信息”缺乏引用基礎(chǔ),導(dǎo)致權(quán)利要求不清楚。

  這類問題在同類獨(dú)立權(quán)利要求之間的引用時(shí)同樣存在,針對這種情況,在撰寫過程中如何進(jìn)行規(guī)避,以及在審查階段如何通過修改來克服這種問題,可以分情況進(jìn)行針對性修改。實(shí)踐中,可以具體分析該引用對象的含義在不對其進(jìn)行限定時(shí)是否清楚,是否影響該多項(xiàng)從屬權(quán)利要求或同類獨(dú)立權(quán)利要求所描述的方案的完整性。

  下面結(jié)合具體案例進(jìn)行詳細(xì)說明。

  案例1:

  1、一種等離子反應(yīng)器,其特征在于,包括:

  基座,用于支撐被處理基片;……

  2、一種等離子反應(yīng)器,其特征在于,包括:

  下電極,用于支撐被處理基片;……

  3、一種使用權(quán)利要求1或2的等離子反應(yīng)器進(jìn)行刻蝕的方法,其特征在于,包括:

  放置待處理基片到所述基座或所述下電極上;……

  以上的獨(dú)立權(quán)利要求3,引用了權(quán)利要求1或2,涉及權(quán)利要求1中的“基座”和權(quán)利要求2中的“下電極”,然而在引用權(quán)利要求1時(shí)“所述下電極”缺乏應(yīng)用基礎(chǔ),在引用權(quán)利要求2時(shí)“所述基座”缺乏引用基礎(chǔ)。

  針對以上問題,經(jīng)過調(diào)研可知,在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,通常下電極包括基座以及其他部件,基座和下電極用于支撐被處理基片,是公知常識。因此,即使不對基座和下電極的功能進(jìn)行限定,本領(lǐng)域技術(shù)人員也能知曉基座和下電極的作用和關(guān)系,其含義相對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說是清楚的,不影響權(quán)利要求3中方案的完整性。因此可以直接刪除“所述基座或所述下電極”中的兩個(gè)“所述”,克服權(quán)利要求3缺乏引用基礎(chǔ)的問題,使修改后的權(quán)利要求3清楚。

  案例2:

  1、一種檢測方法,其特征在于,

  利用檢測設(shè)備對第一特征點(diǎn)進(jìn)行檢測得到第一位置信息;

  利用所述檢測設(shè)備對第二特征點(diǎn)進(jìn)行檢測得到第二位置信息;所述第一特征點(diǎn)和所述第二特征點(diǎn)之間具有預(yù)設(shè)距離;

  根據(jù)所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述預(yù)設(shè)距離,確定所述檢測設(shè)備的實(shí)際位置和基準(zhǔn)位置之間的相對位移。

  2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一位置信息包括所述第一特征點(diǎn)沿第一方向的第一位置分量,以及沿第二方向的第二位置分量;所述第二位置信息包括所述第二特征點(diǎn)沿第一方向的第三位置分量,以及沿第二方向的第四位置分量。

  3、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,所述根據(jù)所述第一位置信息、所述第二位置信息和所述預(yù)設(shè)距離,確定所述檢測設(shè)備的實(shí)際位置和基準(zhǔn)位置之間的位移,包括:

  建立所述第一位置信息、所述第二位置信息、所述相對位移與所述預(yù)設(shè)距離之間的關(guān)系等式;

  根據(jù)所述關(guān)系等式獲取所述相對位移。

  4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,所述建立所述第一位置信息、所述第二位置信息、所述相對位移與所述預(yù)設(shè)距離之間的關(guān)系等式,包括:

  根據(jù)所述第一位置分量和所述第三位置分量,確定所述第一特征點(diǎn)和所述第二特征點(diǎn)沿所述第一方向的第一距離分量;

  根據(jù)所述第二位置分量和所述第四位置分量,確定所述第一特征點(diǎn)和所述第二特征點(diǎn)沿所述第二方向的第二距離分量;

  利用所述第一距離分量、所述第二距離分量、所述預(yù)設(shè)距離和所述第一方向和所述第二方向之間的夾角,建立關(guān)系等式。

  ……

  以上的權(quán)利要求3引用多項(xiàng)權(quán)利要求,權(quán)利要求4引用權(quán)利要求3,相當(dāng)于也是引用多項(xiàng)權(quán)利要求,在權(quán)利要求3引用權(quán)利要求1時(shí),權(quán)利要求4中出現(xiàn)“所述第一位置分量”、“所述第二位置分量”、“所述第三位置分量”和“所述第四位置分量”缺乏引用基礎(chǔ)的問題。這幾個(gè)分量根據(jù)具體方案相關(guān),在未經(jīng)限定時(shí),本領(lǐng)域技術(shù)人員不能得出其實(shí)際含義,導(dǎo)致權(quán)利要求4的方案整體的完整性受到影響,因此簡單將“所述”刪除,還是存在各個(gè)位置分量不清楚的問題,因此需要從實(shí)際方案出發(fā)對其進(jìn)行修改。

  筆者有如下兩種修改方式供參考:

  第一種,在權(quán)利要求4中補(bǔ)充各個(gè)位置分量的限定:將“所述第一位置分量”修改為“所述第一位置信息沿第一方向的第一位置分量”,將“所述第二位置分量”修改為“所述第二位置信息沿第二方向的第二位置分量”,以此類推。這種修改方式使修改后的權(quán)利要求4和權(quán)利要求2存在重復(fù)內(nèi)容,顯得冗余,在權(quán)利要求3引用更多項(xiàng)時(shí)可能要增加非常多的內(nèi)容,但是能夠同時(shí)保留權(quán)利要求1+3+4和1+2+3+4對應(yīng)的范圍。

  第二種,將權(quán)利要求3的引用基礎(chǔ)從權(quán)利要求1或2調(diào)整為權(quán)利要求2,這樣舍棄了權(quán)利要求1+3+4對應(yīng)的范圍,僅保留權(quán)利要求1+2+3+4對應(yīng)的范圍,同樣可以克服權(quán)利要求4缺乏引用基礎(chǔ)的問題。

  以上兩種修改方式可以根據(jù)實(shí)際情況選擇使用,綜合考慮保護(hù)范圍,以及重復(fù)內(nèi)容的體量和重要程度,選擇合適的修改方式。以上示例的引用邏輯相對簡單,在面對更為復(fù)雜的引用邏輯時(shí),同樣可以遵循以上原則進(jìn)行應(yīng)對。

  綜上所述,在實(shí)際撰寫過程中,如存在引用的權(quán)利要求不包括引用對象的情況,可以具體分析該引用對象的含義在不對其進(jìn)行限定時(shí)是否清楚,是否影響該多項(xiàng)從屬權(quán)利要求或同類獨(dú)立權(quán)利要求所描述的方案的完整性,在引用對象足夠清楚不影響方案完整性的情況下直接刪除“所述”即可,在引用對象不清楚影響方案完整性的情況下需要補(bǔ)充相關(guān)限定內(nèi)容,或者放棄引用不包含引用對象的權(quán)利要求,從而克服權(quán)利要求缺乏引用基礎(chǔ)的問題。

  以上是筆者在進(jìn)行權(quán)利要求撰寫的過程中的總結(jié)思考,其中若有不妥之處,還請讀者批評指教。

  

  

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